0755-83318988
產(chǎn)品分類
SuperViewW白光干涉3D表面輪廓儀具有測(cè)量精度高、操作便捷、功能齊全、測(cè)量參數(shù)涵蓋面廣的優(yōu)點(diǎn)，測(cè)量單個(gè)精細(xì)器件的過(guò)程用時(shí)短，確保了高款率檢測(cè)。白光干涉儀的特殊光源模式，可以廣泛適用于從光滑到粗糙等各種精細(xì)器件表面的測(cè)量。
更新時(shí)間：2025-10-17
產(chǎn)品型號(hào)：SuperViewW1
瀏覽量：286
SuperViewW1白光干涉光學(xué)輪廓儀系統(tǒng)可測(cè)各類從超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面，從納米到微米級(jí)別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等。SuperViewW具有測(cè)量精度高、操作便捷、功能齊全、測(cè)量參數(shù)涵蓋面廣的優(yōu)點(diǎn)。
更新時(shí)間：2025-10-15產(chǎn)品型號(hào)：SuperViewW1瀏覽量：285SuperViewW納米級(jí)光學(xué)輪廓白光干涉儀具有測(cè)量精度高、操作便捷、功能齊全、測(cè)量參數(shù)涵蓋面廣的優(yōu)點(diǎn)，測(cè)量單個(gè)精細(xì)器件的過(guò)程用時(shí)短，確保了高款率檢測(cè)。白光干涉儀的特殊光源模式，可以廣泛適用于從光滑到粗糙等各種精細(xì)器件表面的測(cè)量。
更新時(shí)間：2025-10-13產(chǎn)品型號(hào)：SuperViewW1瀏覽量：255中圖儀器0.1nm分辨率白光干涉儀具有測(cè)量精度高、操作便捷、功能齊全、測(cè)量參數(shù)涵蓋面廣的優(yōu)點(diǎn)，測(cè)量單個(gè)精細(xì)器件的過(guò)程用時(shí)短，確保了高款率檢測(cè)。白光干涉儀的特殊光源模式，可以廣泛適用于從光滑到粗糙等各種精細(xì)器件表面的測(cè)量。
更新時(shí)間：2025-09-28產(chǎn)品型號(hào)：SuperViewW1瀏覽量：330SuperViewW表面形貌3D白光干涉儀具有測(cè)量精度高、操作便捷、功能齊全、測(cè)量參數(shù)涵蓋面廣的優(yōu)點(diǎn)，測(cè)量單個(gè)精細(xì)器件的過(guò)程用時(shí)短，確保了高款率檢測(cè)。白光干涉儀的特殊光源模式，可以廣泛適用于從光滑到粗糙等各種精細(xì)器件表面的測(cè)量。
更新時(shí)間：2025-09-25產(chǎn)品型號(hào)：SuperViewW1瀏覽量：321SuperViewW3D表面形貌白光干涉輪廓儀可測(cè)各類從超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面，從納米到微米級(jí)別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等。SuperViewW具有測(cè)量精度高、操作便捷、功能齊全、測(cè)量參數(shù)涵蓋面廣的優(yōu)點(diǎn)。
更新時(shí)間：2025-09-16產(chǎn)品型號(hào)：SuperViewW1瀏覽量：320關(guān)注公眾號(hào)，了解最新動(dòng)態(tài)
Copyright © 2026 深圳市中圖儀器股份有限公司版權(quán)所有
技術(shù)支持：化工儀器網(wǎng) 管理登錄 sitemap.xml
備案號(hào)：粵ICP備12000520號(hào)
三坐標(biāo)測(cè)量?jī)x
影像儀
閃測(cè)儀
激光測(cè)量?jī)x
顯微測(cè)量?jī)x
公司簡(jiǎn)介
企業(yè)文化
榮譽(yù)資質(zhì)
聯(lián)系我們
當(dāng)前位置：
